『膜厚計・分析計・顕微鏡アクセサリ』の輸入販売
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CMI 760

CMI760はマイクロレジスタンス式のMRXモジュールを搭載した膜厚計です。抵抗値を計測して膜厚に換算することにより、サンプル側面や裏面、内層の銅コーティングの影響を受けずに正確な表面銅厚みを測定できます。

プローブ探針が摩耗や破損した場合はプローブモジュールのみ交換が出来る為

低価格で修理が可能です。

オプションのETPプローブを接続すれば渦電流式によるスルーホール銅厚みの計測もできます。

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 先端チップは、ユーザーで交換できる設計です。

 チップはワイドとナローの2種類あります。

 

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