CMI 760

CMI７６０は電気抵抗式のＭＲＸモジュールを搭載した膜厚計です。抵抗値を計測して膜厚に換算することにより、サンプル側面や裏面、内層の銅コーティングの影響を受けずに正確な表面銅厚みを測定できます。
プローブ探針が摩耗や破損した場合はプローブモジュールのみ交換が出来る為
低価格で修理が可能です。
オプションのＥＴＰプローブを接続すれば渦電流式によるスルーホール銅厚みの計測もできます。