『膜厚計・分析計・顕微鏡アクセサリ』の輸入販売
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CMI 165

プリント基板上の銅箔・鍍金厚を短時間で測定する専用膜厚計です。

4探針接触式(電気抵抗式)の為、両面基板・多層基板でも裏面・内部層の影響を受けずに測定が出来ます。

プローブ探針が摩耗や破損した場合はプローブモジュールのみ交換が出来る為

低価格で修理が可能です。

測定データーをパソコンに取り込む事が出来ますのでデーター管理が容易に行えます。

検量線を切り替える事により無電解銅の測定が可能です。

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サイズ:W5.5 x D2.8 x H10.6 cm
重さ :118g
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