『膜厚計・分析計・顕微鏡アクセサリ』の輸入販売
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電気抵抗式膜厚計 (四探針膜厚計)

プリント基板上の銅箔・鍍金厚、絶縁物上の金属皮膜を短時間で測定する膜厚計です。
電気抵抗式(4探針接触式)の為、両面基板・多層基板でも裏面・内部層の影響を受けずに測定が出来ます。
プローブ探針が摩耗や破損した場合はプローブモジュールのみ(95Mはピン先のみ)交換が出来る為
低価格で修理が可能です。
測定データーをパソコンに取り込む事が出来ますのでデーター管理が容易に行えます。
検量線を切り替える事により無電解銅の測定が可能です。(95Mは除く)
従来の渦電流式ではプリント基板裏面や内層の銅の影響を受け、表面銅の正確な厚み測定が困難でした。
電気抵抗式ではプリント基板表面の抵抗値を測定し厚みに換算しますので、裏面や内層の銅の影響を受けずに測定出来ます。

CMI760

CMI165

95M

   
 760/165カタログ  760/165カタログ  CMI95M
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CMI760 CMI165 95M
測定原理 抵抗式 抵抗式 抵抗式
銅箔
ラミネート銅
銅めっき
銅めっきパターン
スルーホール銅めっき オプション
厚み測定レンジ  8LED表示のみ
・無電解銅 0.25~12.7μm 0.25~12.7μm
・電気銅 0.25~254μm 2~254μm

測定原理

渦電流式の場合   抵抗式(CMI760/165/95M)

                                                                                 

 
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