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X-Strata920(Hitachi High-Tech Analyticals Science社製)

X-Strata920は、日立ハイテク アナリティカル サイエンス社(旧Oxford社)製品で、半導体材料、電子部品、自動車部品等のメッキ表面処理皮膜の膜厚みと成分比を短時間で測定します。
X線をコリメーターを通して任意のサイズに絞込み、試料に照射すると、試料の素材ごとの固有X線(蛍光X線)が発生します。
あらかじめ厚さ既知の試料(標準板)を用いて、蛍光X線強度と厚みの関係式(検量線)をパソコンに記憶させておき、厚み未知試料の蛍光X線強度と検量線から、厚みを算出する測定器です。

 

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ミニチャンパー

(写真はモデル ミニチャンパー)

製品動画

仕様

計測元素 原子番号22(Ti)~83(Bi)
X線管 タングステンターゲット 管電圧 50Kv 管電流 1.0mA
検出器 比例計数管(密封型 Xeガス)
コリメーター 1個または最大5個の選択(例 0.1㎜φ、0.2㎜φ、0.05x0.25㎜、0.3㎜φ)
フィルター 1次(AI)2次(Co)他オプションあり
試料画像 カラーCCD(ズーム x1~x2)マルチライト(4方向)各3段階調整機能付
焦点合わせ 赤色レーザーによる半自動式
検量線 FP法、ROI法およびバルクFP法
統計機能 統計値(測定数・平均値・標準偏差・変動係数・最大値・最小値・CPK・レンジ)
レポート機能 簡易レポート作成ソフトSmart Doc
測定可能な皮膜 単層被膜:ニッケルメッキ、亜鉛メッキ、銅メッキ、クロムメッキ、金メッキ、
銀メッキ、錫合金メッキ、パラジウムメッキ、等々
二元合金被膜:SnBiメッキ、ZnNiメッキ、NiP(無電解ニッケル)メッキ、等
複層被膜:Cu下地のAu/Niメッキ、Sn/Niメッキ、鉄下地のCr/Niメッキ、
プラスチック下地のCr/Niメッキ 等
めっき液中の金属イオン濃度

製品ラインナップ

920S スタンダード

920S スタンダード

920M ミニチャンバ

920M ミニチャンバ

920P プログラマブル

920P プログラマブル

920P コンパクトプログラマル

920P コンパクトプログラマル

関連製品情報

測定できる被膜リスト一覧

Xstrata920Application.pdf

※この一覧にない組み合わせでも
初期設定で測定できる場合があります

アプリケーションノート

No1 アルミ上のAg(銀) Ag-Al Ag_Al
No2 プリント基板上のAu(金)、Ni(ニッケル) Au_Ni_Cu
No3 鉄の上のZnNi(亜鉛ニッケル合金)膜厚み成分 お問い合わせ
No4 鉄の上のCr(クロム)、Ni(ニッケル) Cr_Ni_Fe
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